一、通用前置準(zhǔn)備（兩者共用）

1. 確認(rèn)測(cè)試環(huán)境：溫度 15-35℃、濕度 45%-75%，無明顯粉塵、氣流干擾，設(shè)備外殼處于正常安裝狀態(tài)（螺絲擰緊、蓋板閉合）。

2. 檢查試具合規(guī)性：IP3X 用 2.5mm 直形探棒（IEC 60529 試具 C），IP4X 用 1.0mm 鋼絲探棒（IEC 60529 試具 D），需驗(yàn)證探棒直徑公差、長(zhǎng)度（100mm）及檔球（35mm）無變形，推力校準(zhǔn)合格。

3. 明確測(cè)試范圍：標(biāo)記設(shè)備外殼所有縫隙、通風(fēng)口、接口、按鍵周邊、散熱格柵等易侵入部位，確保無遺漏測(cè)試點(diǎn)。

4. 準(zhǔn)備輔助工具：推力計(jì)（精度 ±0.1N）、計(jì)時(shí)器、手電筒（觀察內(nèi)部是否觸及危險(xiǎn)部件）、測(cè)試記錄表。

二、IP3X（2.5mm 固體防護(hù)）詳細(xì)測(cè)試流程

1. 試具定位：手持探棒手柄，將探棒垂直或沿外殼縫隙自然侵入角度，對(duì)準(zhǔn)第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，確保探棒軸線與縫隙方向一致。

2. 施加推力：緩慢施加 3±0.3N 的軸向推力，保持推力穩(wěn)定（用推力計(jì)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)），持續(xù) 10-30 秒。

3. 全面檢測(cè)：在保持推力的同時(shí)，緩慢轉(zhuǎn)動(dòng)探棒（角度不超過 30°），模擬異物可能的侵入路徑；之后移動(dòng)探棒至下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)步驟 1-2，覆蓋所有標(biāo)記部位。

4. 關(guān)鍵觀察：用手電筒照射測(cè)試部位，觀察探棒是否穿透外殼；若設(shè)備透明或可拆解，需確認(rèn)探棒未觸及內(nèi)部帶電部件、轉(zhuǎn)動(dòng)部件等危險(xiǎn)結(jié)構(gòu)。

5. 記錄數(shù)據(jù)：逐點(diǎn)記錄測(cè)試部位、推力值、是否穿透、是否觸及危險(xiǎn)部件，若有異常需標(biāo)注具體位置。

三、IP4X（1.0mm 固體防護(hù)）詳細(xì)測(cè)試流程

1. 試具定位：使用 1.0mm 鋼絲探棒，按 IP3X 的定位方式，對(duì)準(zhǔn)測(cè)試點(diǎn)，因探棒更細(xì)，需重點(diǎn)關(guān)注微小縫隙（如按鍵間隙、接口防塵塞周邊）。

2. 施加推力：緩慢施加 1±0.1N 的軸向推力（避免探棒彎曲），保持 10-30 秒，全程用推力計(jì)控制力度，防止超力導(dǎo)致探棒變形。

3. 全面檢測(cè)：沿縫隙緩慢移動(dòng)探棒，對(duì)狹窄縫隙可適當(dāng)調(diào)整角度（不超過 45°），確保探棒充分接觸縫隙周邊；逐一覆蓋所有測(cè)試點(diǎn)，無遺漏。

4. 關(guān)鍵觀察：重點(diǎn)檢查 1.0mm 探棒是否嵌入縫隙或穿透外殼，同時(shí)確認(rèn)內(nèi)部無 1.0mm 及以上固體異物可能侵入的通道，且探棒未觸及內(nèi)部危險(xiǎn)部件。

5. 記錄數(shù)據(jù)：同 IP3X 記錄要求，額外注明微小縫隙的測(cè)試情況，如是否有探棒卡頓、縫隙是否存在尺寸超差等問題。

四、共同判定與收尾流程

1. 合格判定：兩者均需滿足 “試具未穿透外殼"“未觸及內(nèi)部危險(xiǎn)部件"“無明顯固體異物侵入通道"，即為對(duì)應(yīng)等級(jí)合格；若任一測(cè)試點(diǎn)不符合，判定該等級(jí)不合格。

2. 設(shè)備復(fù)位：測(cè)試后檢查設(shè)備外殼無破損、縫隙無變形，清理表面殘留痕跡。

3. 報(bào)告輸出：整理測(cè)試數(shù)據(jù)，注明試具型號(hào)、環(huán)境參數(shù)、測(cè)試點(diǎn)數(shù)量、合格情況及異常描述，形成正式測(cè)試報(bào)告。